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新技術 DUAL 可檢測損壞標簽

作者:RFID世界網 賀琳
來源:來源網絡(侵權刪)
日期:2008-09-23 10:26:18
摘要:基于圖像技術的供應鏈解決方案的領先提供商 ImageID 宣布了一項新技術 -- DUAL(非貼標資產位置檢測),這是目前唯一一種可檢測和指示貨盤上非貼標資產位置的技術。閱讀器可追蹤那些標簽已損壞、丟失或不在視野內的包裹和其它資產。

  基于圖像技術的供應鏈解決方案的領先提供商 ImageID 宣布了一項新技術 -- DUAL(非貼標資產位置檢測),這是目前唯一一種可檢測和指示貨盤上非貼標資產位置的技術。閱讀器可追蹤那些標簽已損壞、丟失或不在視野內的包裹和其它資產。

  DUAL 技術采用先進的圖像處理軟件算術檢測那些條碼損壞或已丟失的資產,記錄它們的位置,提供被檢測物品的詳細信息。ImageID 的 Visidot Director 在貨運確認、排序和掃描存貨中應用到這些信息。ImageID 已向相關部門申請了 DUAL 技術的專利權。

  DUAL 是 ImageID SCT 方案 Visidot 的最新功能,Visidot可同時檢測和破譯多個條形碼。DUAL 使 Visidot 可在一個屏幕上展示貨盤圖像,顯示丟失或有問題標簽的位置。

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